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平面度的检验方法—铸铁平板篇

时间:2014-03-19 10:34 作者:hbzjjm 点击:

 平面度的检验方法—铸铁平板篇

在我国铸铁平板标准中,规定测量铸铁平板面在各个方向(纵、横、对角、辐射)上的直线度误差中   

大的一个直线度误差,作为铸铁平板面的平面度误差。对小的铸铁平板可采用标准平板研点法、塞尺检

查法等,较大规格的铸铁平板或精度较高的铸铁平板可采用间接测量法、光隙基准法。

  一、铸铁平板研点法

  这种方法是在中小规格铸铁平板利用标准平板,涂色后对铸铁平板台面进行研磨点,检查接触斑点

的分布情况,以证明铸铁平板台面平度情况。使用工具   简单,但不能得出平面度误差数据。铸铁平板

   好采用0.1级精度的加厚标准平板。

  二、塞尺检查法

  用一根相应长度的铸铁平尺,精度为0~1级。在铸铁平板台上放两个等高垫块,铸铁平尺放在垫块

上,用块规或塞尺检查铸铁平板至铸铁平尺工作面的间隙,或用平行平尺和百分表测量。如图:

  三、间接测量法

  所用的量仪有合像水平仪、自准直仪等。根据定义,平面度误差要按   小条件来评定,即平度度误

差是包容实际表面且距离为   小的两平面间的距离。由于该平行平面,对不同的实际被测铸铁平板平面

具有不同的位置,且又不能事先得出,故测量时需要先用过渡基准平面来进行评定。评定的结果称为原

始数据。然后由获得的原始数据再按   小条件进行数据变换,得出实际的平面度误差。但是这种数据交

换比较复杂。在实际铸铁平板生产中,常采用对角线法的过渡基准平面作为评定基准,虽然它不是   小

条件,但是较接近   小条件。

  对角线法测量铸铁平板平面度的方法是:以对角线的过渡基准平面作评定基准,对矩形被测表面测

量时的布线方法如图所示,其纵向和横向布线应不少于两个位置。用对角线法,由于布线的原因,在各

方向测量时,应采用不同长度的支承底座。测量时   先按布线方式测量出各截面上相对于端点连线的偏

差,然后再算出相对过渡基准平面的偏差。平面度误差就是   高点与   低点之差。当被测平面为圆形时

,应在夹角为45°的四条直径方向上检验。

  四、用光线基准法

  用光线基准法测量铸铁平板平面度时,可采用经纬仪等光学仪器,通过光线扫描方法来建立测量基

准平面。其特点是,它的数据处理与调整方便,测量效率高,只是受仪器精度的限制,其测量精度不高

  测量时,将测量仪器放在被测铸铁平板表面,这样,被测表面位置变动对测量结果有影响,只是仪

器放置部位的表面不能测量。测量议器也可放置于被测表面外,这样就能没出全部的被测表面,但被测

表面位置的变动会影响测量结果。因此,在测量过程中,要保持被测表面的原始位置。此方法要求三点

相距尽可能远一些,如图所示的Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ点。按此三点放置靶标,仪器绕轴旋转并逐一瞄准它们。调

整仪器扫描平面位置,使与上述所建的平面平行,即靶标在这三点时,仪器的读数应相等,从而建立基

准平面。然后,再测出被测表面上各点的相对高度,便可以得到铸铁平板表面的平面度误差的原始数据

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